넳 넲
  • 首页 首页
  • 关于我们 关于我们
  • 技术及解决方案 技术及解决方案
    • 半导体缺陷检测系统生态闭环 半导体缺陷检测系统生态闭环
    • AI视觉解决方案与AIns云平台 AI视觉解决方案与AIns云平台
    • 半导体缺陷自动分类识别ADC系统 半导体缺陷自动分类识别ADC系统
    • 一站式半导体工业AI检测设备解决方案 一站式半导体工业AI检测设备解决方案
    • Sense Engine-插件式解决方案引擎 Sense Engine-插件式解决方案引擎
  • 产品中心 产品中心
    • IC产品 IC产品
    • LED产品 LED产品
  • 新闻中心 新闻中心
  • 加入我们 加入我们
  • 联系我们 联系我们
    • 商务需求申请 商务需求申请
  • 详情
  • SP-WI-FSP系列

     

    FSP系列是FSI系列的升级产品

    FSP产品Highlight:

          3D Measure Module

          Linescan Module

          AutoCAD Map Import

          ADC System

    详情

SP-WI-FSI系列

 

          FSI系列是高吞吐,高精度(亚微米级)半导体光学缺陷检测设备。

         适用于IC, IGBT, MEMS, SiC,GaN等主流半导体6/8/12 inch晶圆的图形缺陷检测和三维尺度测量。

IC系列

  • 传真
    0571-88615715
  • 公司名称
    视睿(杭州)信息科技有限公司
  • 地址
    浙江省杭州市余杭区绿泰路5号4幢3楼
  • 电话
    0571-88615715
  • 邮箱
    webmail@dlsense.com

Copyright ©Sense++. All Rights Reserved.  浙公网安备18030899号

 本网站由阿里云提供云计算及安全服务
本网站支持 IPv6
 本网站由阿里云提供云计算及安全服务
本网站支持 IPv6
 本网站由阿里云提供云计算及安全服务
本网站支持 IPv6
 本网站由阿里云提供云计算及安全服务
本网站支持 IPv6